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KPEL-S系列小功率直流電子負(fù)載-科億維

基本的電子負(fù)載可以在恒流 (CC) 或恒壓 (CV) 下運(yùn)行。一些電子負(fù)載提供恒定電阻 (CR)、恒定功率 (CP) 甚至恒定阻抗 (CZ)，但所有這些模式通常都源自基本的 CC 或 CV 功能。CC e-load 用于降低 CV 源的負(fù)載，例如 DC-DC 轉(zhuǎn)換器的輸出。CV 電子負(fù)載將用于降低 CC 電流源的輸出。

　　仔細(xì)觀察 CC 可編程電子負(fù)載，電子負(fù)載通過(guò)調(diào)整FET的 R DS來(lái)控制流過(guò)的電流量(圖 1)。串聯(lián)電阻(分流器)檢測(cè)實(shí)際電流。分流器上的這個(gè)信號(hào)被放大，與用于將電子負(fù)載編程到所需 CC 電平的數(shù)模轉(zhuǎn)換器 (DAC) 電壓進(jìn)行比較，并反饋到 FET 的柵極以產(chǎn)生穩(wěn)定的恒定電流。

大功率直流電子負(fù)載具有多種特點(diǎn)，包括高精度、寬量程和多模式等。該設(shè)備采用數(shù)字控制技術(shù)來(lái)調(diào)整電流輸出大小及恒壓/率變化速度或連續(xù)可調(diào)的任意比例系數(shù)進(jìn)行匹配并聯(lián)使用以及軟啟動(dòng)方式等特點(diǎn)優(yōu)勢(shì),解決了常規(guī)測(cè)試儀器從空載到額定輸出的瞬間沖擊對(duì)被試電源造成的瞬態(tài)電氣參數(shù)改變的問(wèn)題.使檢測(cè)過(guò)程得以順利進(jìn)行的同時(shí)也保證了所測(cè)數(shù)據(jù)的有效性!

在進(jìn)行大功率直流電子負(fù)載測(cè)試時(shí)，需要注意以下幾點(diǎn)：
1.確保設(shè)備安全。在連接電源線、電池和其他附件之前要仔細(xì)檢查設(shè)備的完好性，避免出現(xiàn)短路或漏電等情況發(fā)生危險(xiǎn)。同時(shí)也要注意防靜電措施，以防止損壞設(shè)備和數(shù)據(jù)丟失等后果的發(fā)生。如果使用的是筆記本電腦或其他移動(dòng)式設(shè)備進(jìn)行操作的話，建議將其放置于一個(gè)金屬容器中（如鐵質(zhì)桌面）來(lái)釋放身上的電荷以達(dá)到安全的保障效果。另外還要保證工作環(huán)境的整潔和通風(fēng)良好，以便散熱并降低過(guò)熱的風(fēng)險(xiǎn)。
2.選擇合適的電流輸出檔位及量程范圍。在使用過(guò)程中要根據(jù)實(shí)際需求選擇適當(dāng)?shù)碾妷号c電流擋位以及放電倍率功能來(lái)進(jìn)行相應(yīng)的參數(shù)設(shè)置，以確保不會(huì)對(duì)所測(cè)對(duì)象造成損害并且得到準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)結(jié)果。